Präzisionsmessung auf Nanometer-Ebene für die Erforschung molekularer Strukturen
Die Atomkraftmikroskopie ermöglicht das präzise Scanning von Oberflächen mit einer beispiellosen Auflösung im Nanometer-Bereich. Diese Technologie revolutioniert unser Verständnis von Materialstrukturen auf atomarer Ebene.
Durch die hochpräzise Scanningtechnologie können selbst kleinste Oberflächendefekte und molekulare Strukturen detailliert erfasst und analysiert werden.
Laterale Auflösung: < 1 nm
Vertikale Auflösung: < 0,1 nm
Scanbereich: 0,5 μm × 0,5 μm bis 250 μm × 250 μm
Messtemperatur: 4 K bis 1000 K
Umgebung: Vakuum, Luft, Flüssigkeit
Kanzilever-Material: Silizium, Siliziumnitrid
Federkonstante: 0,01 - 1000 N/m
Resonanzfrequenz: 10 kHz - 2 MHz
Spitzenradius: < 10 nm
Kraftempfindlichkeit: bis zu 1 pN
Die hochsensitiven Kanzilever-Datensensoren bilden das Herzstück der Atomkraftmikroskopie. Sie ermöglichen die Messung intermolekularer Kräfte mit außergewöhnlicher Präzision.
Die Sensoren arbeiten nach dem Prinzip der Auslenkungsmessung und können Van-der-Waals-Kräfte, elektrostatische Wechselwirkungen und chemische Bindungskräfte erfassen.
Die Erstellung präziser topographischer Karten ermöglicht es, komplexe Oberflächenstrukturen und deren Eigenschaften detailliert zu verstehen und zu analysieren.
Die gewonnenen topographischen Daten ermöglichen tiefgreifende Einblicke in Materialverhalten, Verschleißmechanismen und Oberflächenmodifikationen auf molekularer Ebene.
Datenpunkte: bis zu 1024 × 1024 Pixel
Z-Auflösung: 16-24 Bit
Messgeschwindigkeit: 0,1 - 10 Hz
Bildverarbeitung: Echtzeit
Datenformat: Standard- und proprietäre Formate
Kontaktmodus: Direkte Oberflächenabtastung
Tapping-Modus: Intermittierende Kontakte
Non-Contact-Modus: Berührungslose Messung
Kraftmodulation: Modulierte Kraftmessung
Phasenkontrast: Materialkontrast-Abbildung
Die verschiedenen Untersuchungsmodi ermöglichen es, unterschiedliche Probentypen optimal zu charakterisieren und dabei sowohl mechanische als auch chemische Eigenschaften zu erfassen.
Jeder Modus bietet spezifische Vorteile für verschiedene Anwendungsgebiete, von weichen biologischen Proben bis hin zu harten Halbleitermaterialien.
Umfassende Informationsquellen und Werkzeuge für die optimale Nutzung der Atomkraftmikroskopie-Technologie.
Bedienungsanleitungen: Detaillierte Anweisungen
Kalibrierproben: Zertifizierte Standards
Analysesoftware: Professionelle Tools
Wartungsleitfäden: Präventive Pflege
Alle rechtlichen Aspekte und Bestimmungen im Zusammenhang mit der Nutzung von Atomkraftmikroskopie-Technologien.
ISO-Normen: 4287, 25178
CE-Kennzeichnung: Konformitätserklärung
DSGVO: Datenschutz-Compliance
Export: Dual-Use-Verordnung
Umfassende Geschäftsbedingungen für alle Dienstleistungen und Produkte im Bereich der Atomkraftmikroskopie.
Gewährleistung: 24 Monate
Zahlungsfrist: 30 Tage netto
Lieferzeit: 4-8 Wochen
Support: 5 Jahre